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SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀

北京中芯云科儀器有限公司
會(huì)員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:

價(jià)格:電議

所在地:北京

型號(hào):

更新時(shí)間:2024-06-11

瀏覽次數(shù):735

公司地址:北京市順義區(qū)相悅四季東三區(qū)16號(hào)1403

謝偉華(先生)  

產(chǎn)品簡介

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù),適用于生產(chǎn)線快速分選、自動(dòng)化集成測(cè)試及滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。

公司簡介

北京中芯云科儀器有限公司是一家主要是從事儀器設(shè)備,我們同中國科學(xué)院,北京科技大學(xué),清華大學(xué),上海交通大學(xué),北京航空航天大學(xué)等建立了合作和研究中心,目前我們主要在安全控制設(shè)備,計(jì)量檢測(cè)設(shè)備,科學(xué)材料研究設(shè)備,3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售,我們將同國內(nèi)的科研機(jī)構(gòu)和高等院校進(jìn)行廣泛的合作,服務(wù)于國內(nèi)和國外廣大客戶,我們將提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)服務(wù),共同開拓進(jìn)取。
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產(chǎn)品說明

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀

關(guān)鍵詞:半導(dǎo)體,C-V特性,集成電路

 

    

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù),適用于生產(chǎn)線快速分選、自動(dòng)化集成測(cè)試及滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。半導(dǎo)體C-V特性分析儀測(cè)試頻率為10kHz-2MHz,VGS電壓可達(dá)±40V,足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體件CV特性測(cè)試分析。

一、主要應(yīng)用范圍:

半導(dǎo)體元件/功率元件

二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測(cè)試、C-V特性分析

半導(dǎo)體材料

晶圓、C-V特性分析

液晶材料

彈性常數(shù)分析

二、性能特點(diǎn):

通道:2(可擴(kuò)展至6)

高偏置:VGS:0 - ±40V,VDS:0–200V,1500V,3000V

雙CPU架構(gòu),最短積分時(shí)間0.56ms(1800次/秒)

10.1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800,Linux系統(tǒng)

點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測(cè)試方式

四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg)同屏顯示

快速導(dǎo)通測(cè)試Cont

一體化設(shè)計(jì):LCR+高壓源+繼電器矩陣

快速充電,縮短電容充電時(shí)間,實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試

自動(dòng)延時(shí)設(shè)置

10檔分選

三、功能特點(diǎn)

A.單點(diǎn)測(cè)試,10.1英寸大屏,四種寄生參數(shù)同屏顯示,讓細(xì)節(jié)一覽無遺

10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率,Linux系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN接口,帶來了無以倫比的操作便捷性。

MOSFET最重要的四個(gè)寄生參數(shù):Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個(gè)界面直接顯示測(cè)量結(jié)果,并將四個(gè)參數(shù)測(cè)試等效電路圖同時(shí)顯示,一目了然。

多至6個(gè)通道測(cè)量參數(shù)可快速調(diào)用,分選結(jié)果在同一界面直接顯示。

 

B.列表測(cè)試,靈活組合

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持最多6個(gè)通道、4個(gè)測(cè)量參數(shù)的測(cè)試及分析,列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測(cè)量條件任意組合,并可設(shè)置極限范圍,并顯示測(cè)量結(jié)果 。

C.曲線掃描功能(選件)

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以對(duì)數(shù)、線性兩種方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描,可同時(shí)顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。

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C.曲線掃描功能(選件)

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以對(duì)數(shù)、線性兩種方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描,可同時(shí)顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。

 

D.簡單快捷設(shè)置

 

E.10檔分選及可編程HANDLER接口

儀器提供了10檔分選,為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級(jí)提供了可能,分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。

在與自動(dòng)化設(shè)備連接時(shí),怎么配置HANDLER接口輸出,一直是自動(dòng)化客戶的難題,TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對(duì)應(yīng)信號(hào)、應(yīng)答方式等完全可視化,讓自動(dòng)化連接更簡單。

 

F.支持定制化,智能固件升級(jí)方式

SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀客戶而言是開放的,儀器所有接口、指令集均為開放設(shè)計(jì),客戶可自行編程集成或進(jìn)行功能定制,定制功能若無硬件更改,可直接通過固件升級(jí)方式更新。

儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級(jí)等,都可以通過升級(jí)固件(Firmware)來進(jìn)行更新,而無需返廠進(jìn)行。

固件升級(jí)非常智能,可以通過系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進(jìn)行,智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級(jí)包,并自動(dòng)進(jìn)行升級(jí) 

G.半導(dǎo)體元件寄生電容知識(shí)

在高頻電路中,半導(dǎo)體器件的寄生電容往往會(huì)影響半導(dǎo)體的動(dòng)態(tài)特性,所以在設(shè)計(jì)半導(dǎo)體元件時(shí)需要考慮下列因數(shù)在高頻電路設(shè)計(jì)中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響;MOS管的寄生電容會(huì)影響管子的動(dòng)作時(shí)間、驅(qū)動(dòng)能力和開關(guān)損耗等多方面特性;寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計(jì)中也是至關(guān)重要,以MOSFET為例。

 

技術(shù)參數(shù)

1、 通道:2通道(可擴(kuò)展6通道)

2、 顯示:液晶顯示,觸摸屏

3、 測(cè)量參數(shù):C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、|Z|、|Y|

4、 測(cè)試頻率:10kHz-2MHz

5、 精度:0.01%

6、 分辨率:10mHz  1.00000kHz-9.99999kHz

7、 電壓范圍:5mVrms-2Vrms

8、 精度:±(10%×設(shè)定值+2mV)

9、 VGS電壓: ±40V,準(zhǔn)確度:1%×設(shè)定電壓+8Mv,分辨率;1mV(0V-±10V)

10、 VDS電壓:0 - 200V

11、 精度:1%×設(shè)定電壓+100mV

12、 1%×設(shè)定電壓+100mV

13、 輸出阻抗:100Ω,±2%@1kHz

14、 軟件:C-V特性曲線分析,對(duì)數(shù)、線性兩種方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描


本頁產(chǎn)品地址:http://m.bhxfsw.cn/sell/show-9487963.html
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