HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀

HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查

北京中芯云科儀器有限公司是一家主要是從事儀器設(shè)備，我們同中國(guó)科學(xué)院，北京科技大學(xué)，清華大學(xué)，上海交通大學(xué)，北京航空航天大學(xué)等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設(shè)備，計(jì)量檢測(cè)設(shè)備，科學(xué)材料研究設(shè)備，3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售，我們將同國(guó)內(nèi)的科研機(jī)構(gòu)和高等院校進(jìn)行廣泛的合作，服務(wù)于國(guó)內(nèi)和國(guó)外廣大客戶，我們將提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)服務(wù)，共同開拓進(jìn)取。

HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀（通過CNAS認(rèn)證）

關(guān)鍵詞：電阻率，體電阻，表面電阻，CNAS

HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路，能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量?？蓪?shí)現(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)，可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線，高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用。

一、HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀主要用途：適用于新材料評(píng)估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗(yàn)

2、貼片電容的IR測(cè)量

3、MLCC（多層陶瓷電容器）的絕緣測(cè)量

4、光伏電池薄膜的絕緣測(cè)量

5、噪音濾波器的絕緣（高阻）測(cè)量

6、液晶設(shè)備的絕緣測(cè)量

7、涂層（涂料）的表面電阻率測(cè)量

8、外殼的帶電度的測(cè)量

9、二極管的微笑泄漏電流測(cè)量

10、光電耦合器的初級(jí)/次級(jí)絕緣（高電阻）測(cè)量

11、打印機(jī)墨粉輥軸的絕緣測(cè)量

12、用于針對(duì)半導(dǎo)體廠家的絕緣密封件的評(píng)估試驗(yàn)

13、用于組裝在貼片機(jī)、分選機(jī)、自動(dòng)化設(shè)備中

一、HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、多種使用方法的超絕緣計(jì),提供CNAS計(jì)量合格證書

2、能夠作為IR表、靜電計(jì)等高電阻計(jì)，以及作為皮安表這種微小電流計(jì)來使用，使用方法非常豐富的測(cè)量?jī)x器。

2、能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量2000V輸出

3、偏差1/60，抗噪音性能300倍, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合，大幅提高抗噪音性能。

4、輸出電壓從最小0.1V到最大1000V，能夠以0.1V為單位任意設(shè)置

5、最快6.4ms的高速檢查, 高速檢查和最大50mA的預(yù)充電功能的組合可以實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5、高溫爐膛，耐高溫、抗氧化的測(cè)試夾具,提供CNAS計(jì)量合格證書

二、HTIM-600C型高溫電阻率測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)：

1、體積電阻率和表面電阻率測(cè)試范圍10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm；

2、測(cè)試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、電極材質(zhì)：600℃不氧化，三電極尺寸為25mm（被保護(hù)電極直徑）、38mm（保護(hù)電極內(nèi)徑）、50mm（保護(hù)電極外徑），樣品厚度在3mm以內(nèi)；

3、測(cè)量精度：①電阻≤1010Ω時(shí)，精度±5％；電阻>1010Ω時(shí)，精度±10%；②電壓＜100V時(shí)，精度±5%，電壓≥100V時(shí)，精度±2％；

2、溫度范圍;室溫~600℃；

3、控溫精度：溫度≤300℃，精度±1℃，溫度＞300℃，精度±2℃；控溫設(shè)備需有測(cè)溫口；（能夠通過計(jì)量CNAS認(rèn)證）

4、測(cè)試軟件：①可設(shè)置連續(xù)升溫測(cè)試，得到不同溫度下體積電阻率、表面電阻率具體值，直接得到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線；

5、溫度精度：可設(shè)置在某一具體溫度點(diǎn)測(cè)試，得到體積電阻率、表面電阻率在不同時(shí)間點(diǎn)的具體值，直接得到體積電阻率-時(shí)間曲線、表面電阻率-時(shí)間曲線；

5、電腦要求：windows10 系統(tǒng)，內(nèi)存16G以上，CPU四核；

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min（不做計(jì)量要求）；

7、能通氮?dú)?，測(cè)試時(shí)在高溫和氮?dú)猸h(huán)境下測(cè)試；

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標(biāo)準(zhǔn)；

10、排氣口有過濾裝置；

11、降溫要求：600℃降到室溫在1h以內(nèi)（（不做計(jì)量要求）；

12、控溫設(shè)備的溫度精度和高阻計(jì)精度，具體要求為：①控溫設(shè)備溫度精度計(jì)量：需廠家找的第三方計(jì)量單位（CNAS認(rèn)證）到公司現(xiàn)場(chǎng)計(jì)量，溫度計(jì)量點(diǎn)至少包括125℃、200℃、300℃、500℃、600℃；②高阻計(jì)電阻計(jì)量：廠家提供第三方計(jì)量報(bào)告（CNAS認(rèn)證），電阻計(jì)量點(diǎn)至少包括104Ω、107Ω、1010Ω、1013Ω、1015Ω；③高阻計(jì)電壓計(jì)量：廠家提供第三方計(jì)量報(bào)告

高溫絕緣電阻率運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)。利用三電極測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性比較好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提升精度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

★減弱電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

在超高阻、弱信號(hào)測(cè)量過程中、輸入偏置電流和泄漏電流都會(huì)引起測(cè)量誤差。同時(shí)電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。以致影響弱信號(hào)的采集，推出的抗干擾模塊以及采用特殊參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fA(10^-15 A)的測(cè)量分辨率。

★減弱不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能、數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽

自動(dòng)平均值是檢測(cè)電流的變化，并自動(dòng)將其進(jìn)行平均化的功能， 在查看測(cè)量結(jié)果的同時(shí)不需要改變?cè)O(shè)置。通過自動(dòng)排除充電電流的過渡響應(yīng)時(shí)或接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致偏差較大。電流輸入端口采用大口徑三軸連接器，是將內(nèi)部屏蔽連接至GUARD(COM)線，外部屏蔽連接至GROUND的3層同軸設(shè)計(jì)。兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的安全性。

具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合絕緣材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。

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