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ZNC-1C 少子壽命掃描儀

北京卓耐科技有限公司
會(huì)員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:

價(jià)格:電議

所在地:北京

型號(hào):ZNC-1C

更新時(shí)間:2011-12-21

瀏覽次數(shù):1948

公司地址:北京市朝陽(yáng)區(qū)雙橋合美國(guó)際大廈A座

杜女士(女士)  

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

www.ace-gem.com卓耐科技推出的ZNC-1C是一款功能強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量,更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒

公司簡(jiǎn)介


       北京卓耐科技有限公司,坐落于北京市朝陽(yáng)區(qū)雙橋工業(yè)園區(qū)。公司得力于北京清華大學(xué)、天津大學(xué)、中國(guó)科學(xué)院等單位給予支持,是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)和銷(xiāo)售光伏類(lèi)檢測(cè)儀器儀表的公司。

 公司近年來(lái)不斷地引進(jìn)國(guó)內(nèi)外先進(jìn)的生產(chǎn)設(shè)備及制造工藝,研發(fā)新技術(shù),增強(qiáng)技術(shù)優(yōu)勢(shì),改良產(chǎn)品設(shè)計(jì),力求創(chuàng)造質(zhì)量一流的產(chǎn)品。公司主導(dǎo)產(chǎn)品服務(wù)于半導(dǎo)體及光伏行業(yè)檢測(cè).節(jié)能檢測(cè).霧氣檢測(cè)等行業(yè)的工藝與設(shè)計(jì);公司以“卓越的品質(zhì),真摯的服務(wù)、低廉的價(jià)格”為宗旨,為國(guó)內(nèi)廣大用戶(hù)提供了周到的售前咨詢(xún)和售后服務(wù),并與國(guó)內(nèi)外多家儀器儀表制造廠(chǎng)商和國(guó)內(nèi)科研機(jī)構(gòu)建立了密切長(zhǎng)期的合作伙伴關(guān)系。

卓耐科技?xì)g迎各位客戶(hù)前來(lái)光臨做客,我們將以最真誠(chéng)的服務(wù)來(lái)回報(bào)廣大客戶(hù)對(duì)我們工作的支持。我們會(huì)不斷推出質(zhì)量可靠,性能卓越的產(chǎn)品,堅(jiān)持以質(zhì)量效益為發(fā)展道路,以讓顧客滿(mǎn)意為永恒主題。也同時(shí)希望社會(huì)給予我們更多的關(guān)注。

展開(kāi)

產(chǎn)品說(shuō)明


 www.ace-gem.com卓耐科技推出的ZNC-1C是一款功能強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量,更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到6000μs,硅料電阻率下限達(dá)0.1Ω.cm(可擴(kuò)展至0.01Ω.cm)。測(cè)試過(guò)程全程動(dòng)態(tài)曲線(xiàn)監(jiān)控,少子壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況.

使用范圍

用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,除需要有一個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊體形無(wú)嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。

產(chǎn)品特點(diǎn)
u        測(cè)試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅       片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測(cè)量。
u        主要應(yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的進(jìn)廠(chǎng)、出廠(chǎng)檢查,生產(chǎn)工藝過(guò)程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
u        適用于低阻硅料少子壽命的測(cè)量,電阻率測(cè)量范圍可達(dá)ρ>0.1Ω?cm(可擴(kuò)展至0.01Ω?cm),完全解決了微波光電導(dǎo)無(wú)法檢測(cè)低阻單晶硅的問(wèn)題。
u        全程監(jiān)控動(dòng)態(tài)測(cè)試過(guò)程,避免了微波光電導(dǎo)(u-PCD)無(wú)法觀測(cè)晶體硅陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)缺陷的問(wèn)題。
u        貫穿深度大,達(dá)500微米,相比微波光電導(dǎo)的30微米的貫穿深度,真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測(cè)量,避免了表面復(fù)合效應(yīng)的干擾。 
u        專(zhuān)業(yè)定制樣品架zui大程度地滿(mǎn)足了原生多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)測(cè)試多種形狀的硅材料少子壽命的要求,包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。
u        性?xún)r(jià)比高,價(jià)格遠(yuǎn)低于國(guó)外國(guó)外少子壽命測(cè)試儀產(chǎn)品,極大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本。

技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍       硅晶體電阻率:0.005-50000Ω•cm
鍺單晶:       0.1-100Ω•cm
可測(cè)材料       硅半導(dǎo)體材料 - 硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片等,鍺半導(dǎo)體材料
少子壽命       1μs-6000μs
可測(cè)硅料電阻率   ≥0.1Ω.cm
激光波長(zhǎng)       1.07μm
貫穿深度       500μm
供電電源       ~220V 50Hz 功耗<50W
推薦使用環(huán)境   溫度:23±2℃   相對(duì)溫度:≤65%


本頁(yè)產(chǎn)品地址:http://m.bhxfsw.cn/sell/show-177798.html
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