2048通道
器件測(cè)試圖例:
SWA2048內(nèi)圖2
集成電路測(cè)試截圖:
SWA2048內(nèi)圖3
SWA2048內(nèi)圖4
可以放大觀看單個(gè)管腳PIN
測(cè)試通道:
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2048路
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道:2048路
三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2048路
英國(guó)abi_SWA2048集成電路測(cè)試儀功能用途:
1)集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè);
2)可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試;三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試;
3)快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件;
4)對(duì)不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析;
5)非加電條件下對(duì)集成電路、電路板進(jìn)行的端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試分析;
6)快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳,查找故障電路板的失效I/O管腳;
7)測(cè)試安全可靠,解決器件工藝、電路板工藝問題,快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題;
8)進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測(cè);
9)專業(yè)操作管理平臺(tái):可根據(jù)需求編輯測(cè)試流程程序,完成自定義化測(cè)試,軟件管理平臺(tái)兼容其他廠商設(shè)備。測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過程,使集成電路、電路測(cè)試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程(維修流程、生產(chǎn)流程)。保證了測(cè)試工藝的一致性,排除人為因素的干擾。使測(cè)試簡(jiǎn)單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。
英國(guó)abi_SWA2048集成電路測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格:
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2048路
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道:2048路
三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2048路
實(shí)時(shí)探筆對(duì)比測(cè)試通道:4路
同步脈沖信號(hào):4路
測(cè)試電壓范圍:2 V ~ 50 Vp-p;
顯示圖形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;
信號(hào)電流范圍: 1 μA to 150 mA
測(cè)試阻抗范圍 : 100Ω ~ 1MΩ;
三維立體V-I-F測(cè)量方式:掃頻;
同步脈沖輸出模式:?jiǎn)蚊}沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖;
同步信號(hào)振幅:可調(diào)式由 +10 V ~- 10V;
英國(guó)abi_SWA2048集成電路測(cè)試儀主要:
1)提供軟件開發(fā)平臺(tái),兼容其他廠商測(cè)試設(shè)備;
2)特有的V-T模式可測(cè)量器件的開關(guān)時(shí)間特性(配合同步脈沖);可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試??蓽y(cè)試三段期間開關(guān)時(shí)間特性。
3)動(dòng)態(tài)阻抗分析功能,可以對(duì)三維圖形進(jìn)行參數(shù)的測(cè)量;
4)變頻或掃頻三維立體V-I-F測(cè)量方式,三維立體顯示器件的端口特性曲線,可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或集成電路。
5)非加電條件下靜態(tài)診斷集成電路, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試更安全:矩陣式掃頻測(cè)試,脈沖輸出進(jìn)行的動(dòng)態(tài)V/T測(cè)試。
北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國(guó)ABI技術(shù)服務(wù)中心)提供:
集成電路測(cè)試儀,集成電路篩選測(cè)試儀,元器件篩選測(cè)試儀,元器件檢測(cè)儀,三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試儀的使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測(cè)試程序開發(fā)編譯服務(wù)。
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