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Verifire? MST 激光干涉儀

昆山艾爾發(fā)計(jì)量科技有限公司
會(huì)員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:

價(jià)格:電議

所在地:江蘇 蘇州市

型號(hào):

更新時(shí)間:2024-09-19

瀏覽次數(shù):1593

公司地址:江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)元豐路232號(hào)2號(hào)樓一樓

昆山艾爾發(fā)計(jì)量科技有限公司(先生)  

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Verifire? MST 激光干涉儀:Interferometer System for Multiple Surface Testing

公司簡(jiǎn)介


艾爾發(fā)成立于2005年4月,是一家集儀器銷(xiāo)售、計(jì)量服務(wù)、非標(biāo)檢具、智能測(cè)控、在線質(zhì)量檢測(cè)控制的一站式服務(wù)公司。艾爾發(fā)整合各類(lèi)資源結(jié)合自有專(zhuān)業(yè)技術(shù),為制造企業(yè)的質(zhì)量控制提供全套解決方案。

專(zhuān)業(yè)支持:
公司擁有一支專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì),研發(fā)了一系列具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高端標(biāo)準(zhǔn)儀器以及溯源用標(biāo)準(zhǔn)器具,同時(shí)可為用戶提供完善的系統(tǒng)集成服務(wù)。

經(jīng)營(yíng)理念:
提償以人為本、以用戶為中心、以市場(chǎng)為導(dǎo)向、以科技為基礎(chǔ),為制造業(yè)的質(zhì)量提升和工業(yè)計(jì)量領(lǐng)域智能轉(zhuǎn)化賦能。


展開(kāi)

產(chǎn)品說(shuō)明

Verifire? MST 激光干涉儀提供了一個(gè)前所未有的嶄新的測(cè)量方式和能力,傳統(tǒng)的激光干涉儀應(yīng)用是測(cè)量?jī)蓚€(gè)面的波前變化,也就是說(shuō)測(cè)量一個(gè) 由兩個(gè)面所形成的腔。

但是,如果所測(cè)量的是一個(gè)沒(méi)有經(jīng)過(guò)鍍膜的平行平板,則就會(huì)產(chǎn)生兩個(gè)疊加的干涉條紋(三個(gè)面的腔所形成),這樣就會(huì)干擾標(biāo)準(zhǔn)的位相干涉測(cè)量分析。

現(xiàn)在,ZYGO的Verifire? MST 激光干涉儀解決了這一個(gè)問(wèn)題,通過(guò)波長(zhǎng)調(diào)制技術(shù)和ZYGO新的傅立葉變換方法,可以進(jìn)行三個(gè)甚至四個(gè)平行面的測(cè)量,不僅可以顯示所有的面,并且可以排除其他的面而單獨(dú)顯示你所需要的面。

三平面干涉測(cè)量

Verifire? MST 激光干涉儀可以在你的測(cè)量中,只要一次數(shù)據(jù)采集,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時(shí)還能得到平行平板的光學(xué)厚度:

? 前表面形貌圖

? 光學(xué)厚度變化

? 物理厚度變化和后表面形變

四表面干涉測(cè)量

這一技術(shù)能夠通過(guò)兩次數(shù)據(jù)采集得到下列結(jié)果:

? 前表面和后表面的形貌圖

? 物理厚度變化

? 光學(xué)厚度變化

? 折射率變化
- 非線性材料均勻性
- 線性材料均勻性

多表面樣品測(cè)量快速、簡(jiǎn)單和質(zhì)量提升

同時(shí)測(cè)量表面形變和光學(xué)厚度變化

平行平板兩側(cè)測(cè)量就可以得到其均勻性:

? 不需要涂油就可以進(jìn)行安全、快速測(cè)量

? 兩次測(cè)量不需要進(jìn)行調(diào)整

的線性材料均勻性測(cè)量

快速測(cè)量,只需要幾分鐘而不是幾個(gè)小時(shí)



型號(hào):BZY1-Verifire? MST

貨號(hào):21011301

Interferometer System for Multiple Surface Testing

Verifire?MST laser interferometer enables precise optical metrology of multiple surfaces?simultaneously, including plane parallel components with multiple reflections.

The Verifire? MST starts with the classical interferometer applications.
These applications all measure the wavefront variations between two surfaces, a two-surface cavity.

However, measuring an uncoated parallel plate gives two layered interferograms (a three-surface cavity) that confuse standard Phase Shift Interferometry algorithms.

ZYGO has solved this problem using wavelength shifting of phase, and ZYGO's patented Fourier Transform Phase Shifting Interferometry (FTPSI).

The Verifire? MST can measure two-surface, three- and even four-surface cavities.

Show all of the surfaces, or only the surfaces of interest, all within ZYGO'sMx? software. Artifacts are naturally suppressed using FTPSI, eliminating the need for an extended source.




本頁(yè)產(chǎn)品地址:http://m.bhxfsw.cn/sell/show-8463076.html
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