日本日置-IM3536-LCR測試儀
DC,4Hz~8MHz測量頻率,今后的標桿產(chǎn)品 ● 測量頻率DC,4Hz~8MHz ● 測量時間:快1ms ● 基本精度:±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進行低阻測量 ● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量 ● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中 基本參數(shù) 測量模式 LCR(單一條件下測量),
日本日置-IM3536-LCR測試儀
連續(xù)測量(保存條件下連續(xù)測量) 測量參數(shù) Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε 測量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數(shù)由Z規(guī)定) 顯示范圍 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
日本日置-IM3536-LCR測試儀
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ) 測量頻率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進) 測量信號電平 [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V) [CC模式]的[低Z模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V) [直流電阻測量]: 1 V固定 DC偏壓 發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z模式時0 ~1 V) 輸出阻抗 通常模式:100 Ω, 低Z模式: 10 Ω 顯示 彩色TFT5.7英寸,觸摸屏 功能 比較器、BIN測量(2個項目10種分類),觸發(fā)功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能 接口 EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出 電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA
IM3536-LCR測試儀
體積及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg 附件 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(通訊說明書,LCR應(yīng)用光盤)×1 探頭·治具 SMD測試治具IM9100 直接連接型,底部有電SMD用,DC~8MHz,可測量樣品尺寸:0402~1005(JIS) 4端子開爾文夾9140-10 DC~200kH,50 Ω,1 m長 測試治具9261-10 線長1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可測端口直徑:0.3~1.5mm 測試治具9262 DC~8 MHz, 直接連接型 SMD測試治具9263 直接連接型, DC~5 MHz 測試尺寸: 1mm~10.0mm
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