利用窄帶過(guò)濾器來(lái)選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對(duì)探測(cè)和評(píng)估植物葉片病害的嚴(yán)重性十分有用。近紅外區(qū)的長(zhǎng)波波段可以用于估計(jì)植物的生物化學(xué)成份。
采用可見/近紅外光反射光譜技術(shù)和多通道光譜信息掃描技術(shù)，可快速測(cè)定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。
儀器為8通道通用光譜檢測(cè)分析儀，zui大可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器，用戶可以根據(jù)實(shí)際須要定制不同波段的濾光片進(jìn)行光譜檢測(cè)。
儀器自帶8個(gè)波段的濾光片，主要中心波段為：550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.
內(nèi)置傳感器自動(dòng)校正模塊。
植物冠層分析儀ZTP-2000應(yīng)用范圍：
*描述:
-植物正常生長(zhǎng)
-植物冠層顔色
-植物生長(zhǎng)環(huán)境
*評(píng)估:
-作物生物量
-生物化學(xué)含量
-作物產(chǎn)量組成
-作物質(zhì)量因子
-葉面積指數(shù)
-由于病蟲害、空氣污染、養(yǎng)分不足和化學(xué)植物毒素等造成的作物產(chǎn)量損失與品質(zhì)降低
*植物生長(zhǎng)調(diào)節(jié)劑的評(píng)估
*客觀有效地對(duì)各種葉片病害的評(píng)級(jí)
*監(jiān)測(cè)應(yīng)用除草劑的效果
*用于土壤改善和肥力的研究
*葉面施肥的研究
*灌溉日程安排的研究
*干旱對(duì)植物生長(zhǎng)和產(chǎn)量的影響
*不同基因型的特性
*試驗(yàn)地變異的評(píng)估
植物冠層分析儀ZTP-2000特點(diǎn)：
輻射計(jì)方向360度可調(diào)，可以自動(dòng)校準(zhǔn)太陽(yáng)方向角對(duì)測(cè)量造成的影響
儀器高矮可調(diào)節(jié)
能夠在少云的情況下使用
8個(gè)波段與Lsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似
重量輕、便于攜帶
可以用于無(wú)人值守的操作
大屏幕中文液晶顯示
手持機(jī)可存儲(chǔ)，通過(guò)按鍵存儲(chǔ)
帶計(jì)算機(jī)接口，可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī)，以便分析之用
技術(shù)指標(biāo)：
現(xiàn)在已定標(biāo)的有：
A、歸一化植被指數(shù)NDVI、SA-NDVI，WDR-NDVI，RVI
B、光化學(xué)反射系數(shù)PRI
C、葉面積指數(shù)（LAI）
D、冠層林隙比例（GAP SIZE）
E、植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)
波段:8個(gè)
中心波長(zhǎng): 550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm
操作范圍:0到+50℃,0到相對(duì)濕度不凝結(jié),<20%的相對(duì)濕度下貯藏
反射率區(qū)間:0到
分辨率:0.06%
度:+/-4%
檢波器:發(fā)光二管
尺寸：100×100×80mm
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)：1000組
響應(yīng)時(shí)間：2秒
重量:1kg
植物冠層分析儀配置：
該系統(tǒng)包括輻射計(jì)、數(shù)據(jù)記錄器（手持表）、伸長(zhǎng)桿 (可伸長(zhǎng)到3.5米)、 AC適配器及充電器、軟件光盤、數(shù)據(jù)連接線、使用手冊(cè)
植物冠層分析儀操作方法：
在田間，通過(guò)支持架（桿）將輻射計(jì)保持在作物冠層上面的水平位置。田間的觀測(cè)直徑是反射計(jì)高于冠層的高度的一半。系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)獲取程序便于對(duì)電壓數(shù)字化和記錄每一選擇波長(zhǎng)的反射百分?jǐn)?shù)。該程序同時(shí)允許對(duì)多個(gè)樣本取平均值。各種輔助數(shù)據(jù)，如時(shí)間、入射輻射水平和輻射計(jì)內(nèi)部的溫度，均可在每次掃描時(shí)記錄下來(lái)。
通過(guò)手動(dòng)開關(guān)或按手持機(jī)觸發(fā)的一次掃描只需約2秒鐘。各種操作過(guò)程均有屏幕提示。
輻射計(jì)設(shè)計(jì)允許幾乎同時(shí)輸入代表入射輻射和反射輻射的電壓值。這一特性允許在非理想的太陽(yáng)角度和光照條件下測(cè)量作物冠層的反射率。在多云條件下，利用系統(tǒng)校準(zhǔn)程序進(jìn)行環(huán)境校準(zhǔn)，仍然可以獲得有用的反射率觀測(cè)值。
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