德國(guó)新帕泰克PICTOS在線粒度粒形分析儀

德國(guó)新帕泰克有限公司(SYMPATEC GmbH)創(chuàng)建于1984年，是從以粉體研究而聞名世界的大學(xué)Technical University of Clausthal(TUC)中分支出來(lái)的，集研發(fā)、生產(chǎn)和銷售為一體的世界頂級(jí)的專業(yè)粒度分析儀制造商。

自公司成立起，新帕泰克就憑借自身雄厚的粉體專業(yè)知識(shí)，通過(guò)不斷創(chuàng)新和開(kāi)發(fā)，不斷地向客戶提供滿足不同使用要求的各類粒度分析儀，公司的創(chuàng)始人之一，現(xiàn)總裁Stephan Roethele是在粉體研究方面有著豐富經(jīng)驗(yàn)的專家。新帕泰克公司技術(shù)力量雄厚，其中將近一半的員工具有博士學(xué)位，在全球粒度檢測(cè)技術(shù)和粒度儀制造領(lǐng)域譽(yù)有權(quán)威地位。根據(jù)在粉體研究方面的專業(yè)知識(shí)和多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，新帕泰克公司提出并形成了 “ 干樣干測(cè)，濕樣濕測(cè)；瞬時(shí)分散，瞬時(shí)測(cè)量 ” 的測(cè)試?yán)砟睿灰罁?jù)此理念給客戶提供最精良的粒度儀。讓測(cè)試儀器去適應(yīng)不同特性的被測(cè)物料是新帕泰克公司的始終目標(biāo)?！?br />
首部國(guó)際激光粒度儀制造標(biāo)準(zhǔn)ISO13320，其主要技術(shù)內(nèi)容就是根據(jù)德國(guó)新帕泰克公司的技術(shù)指標(biāo)來(lái)制定的。

任何一種儀器都是依據(jù)一定的物理理論或原理來(lái)設(shè)計(jì)和制造的，每一種物理理論都有其應(yīng)用的前提和條件，在設(shè)計(jì)儀器的時(shí)候，應(yīng)該考慮采用該理論最適合的領(lǐng)域，當(dāng)其應(yīng)用受到限制時(shí)，需采用更加適合的其它理論來(lái)處理。根據(jù)這樣的設(shè)計(jì)指導(dǎo)思想，德國(guó)新帕泰克公司自主研發(fā)、制造和銷售以下基于不同物理理論的四大類粒度測(cè)試儀器： 1. 基于靜態(tài)光散射理論的激光粒度儀系列 2. 基于超聲衰減原理的濕法粒度儀 3. 基于光子交叉相關(guān)光譜(PCCS)原理的納米激光粒度儀 4. 基于成像原理的快速動(dòng)態(tài)圖像分析儀

PICTOS是獨(dú)有的結(jié)合了干法分散單元的在線粒度粒形分析系統(tǒng) 的在線高速成像系統(tǒng)：500禎/秒的成像速率，像素1024×1024，曝光時(shí)間1納秒,  圖：結(jié)合干粉進(jìn)樣器VIBRI/L的PICTOS. 技術(shù)參數(shù)和儀器尺寸.PICTOS將干法分散系統(tǒng)RODOS和高速成像和粒度粒形檢測(cè)系統(tǒng)QICPIC有機(jī)結(jié)合成一個(gè)獨(dú)立有效的，直接應(yīng)用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中的在線粒度粒形檢測(cè)系統(tǒng)。PICTOS可以直接和在線代表性取樣系統(tǒng)TWISTER，取樣探針，混樣器或者客戶提供的其他類型的取樣裝置相結(jié)合進(jìn)行工作。和實(shí)驗(yàn)室用的粒度粒形分析儀QICPIC一樣，PICTOS綜合了目前新的研究成果：強(qiáng)力干法分散裝置，可以將細(xì)達(dá)0.1微米的細(xì)粉完全分散成單個(gè)的顆粒；高頻脈沖光源，小于1納秒的曝光時(shí)間，得到顆粒的邊緣清晰的圖像(即使是運(yùn)動(dòng)速度達(dá)100 m/s的顆粒其攝像產(chǎn)生的運(yùn)動(dòng)虛影也小于100nm)；高速成像系統(tǒng)，每秒得到500幅圖像，保證測(cè)試結(jié)果的代表性以及合理縮短測(cè)試時(shí)間。PICTOS的測(cè)試范圍是從5微米到3.5毫米，采用3組測(cè)試鏡頭。原始測(cè)試數(shù)據(jù)以30,000分級(jí)儲(chǔ)存在數(shù)據(jù)庫(kù)中，在應(yīng)用的時(shí)候，采用不同的輸出模板，得到不同格式的測(cè)試結(jié)果。預(yù)定義數(shù)據(jù)分級(jí)功能可以使PICTOS的測(cè)試數(shù)據(jù)以所要求的表達(dá)形式提供。WINDOX操作軟件，同時(shí)提供顆粒粒度和粒形相關(guān)的信息。顆粒圖形庫(kù)結(jié)合多功能的過(guò)濾功能支持計(jì)算和輸出某些特定要求的結(jié)果，超過(guò)一千萬(wàn)顆?？梢酝瑫r(shí)儲(chǔ)存在圖形庫(kù)中。根據(jù)FDA對(duì)檢測(cè)結(jié)果的安全要求，PICTOS符合21 CFR Rule 11的電子文檔和電子簽名的安全性要求。 PICTOS的特點(diǎn) 從5微米到3500微米顆粒的粒度和粒形同時(shí)分析 適合同現(xiàn)有的取樣系統(tǒng)結(jié)合，如代表性取樣系統(tǒng)TWISTER， 單探針式取樣系統(tǒng)或者是混樣器。 有效的分散取代了原來(lái)需要通過(guò)軟件來(lái)修正圖形邊界的問(wèn)題，測(cè)試結(jié)果更精確。 得到高速顆粒流的準(zhǔn)靜態(tài)圖像 清晰的圖像邊界，顆粒的大小和清晰度同顆粒在測(cè)試區(qū)域的位置無(wú)關(guān)(無(wú)景深) 以黑色輪廓清楚地顯示顆粒的邊界，實(shí)現(xiàn)對(duì)全透明顆粒的檢測(cè) 短時(shí)間內(nèi)得到大量顆粒的清晰圖像，測(cè)試結(jié)果的統(tǒng)計(jì)性好 用戶自定義數(shù)據(jù)分級(jí)功能滿足用戶對(duì)數(shù)據(jù)細(xì)分高達(dá)30000級(jí)，對(duì)分布曲線上的任何一個(gè)分級(jí)點(diǎn)無(wú)限制。 預(yù)定義的分級(jí)數(shù)據(jù)已儲(chǔ)存于軟件中，包括HELOS系列數(shù)據(jù)等級(jí)、篩分分級(jí)點(diǎn)等等 大量的計(jì)算模式可供選擇 測(cè)試完畢后可以重新選擇模式進(jìn)行計(jì)算和數(shù)據(jù)處理： 粒度分析：等效投影圓面積徑，F(xiàn)eret徑等等 粒形分析：球形度、長(zhǎng)細(xì)比和不規(guī)則度 纖維分析：纖維長(zhǎng)度、纖維粒徑、彎曲系數(shù)和復(fù)雜結(jié)構(gòu)的分析 顆粒圖形庫(kù)：根據(jù)篩選條件顯示并打印出用戶挑選出的特定顆粒，追溯顆粒原始運(yùn)動(dòng)情況，如篩選球形顆粒所占的比例等 用戶自定義分析：提供基于滿足用戶所定義和要求的粒度粒形分析。 PICTOS符合21 CFR Rule 11的電子文檔和電子簽名的安全性要求。 實(shí)驗(yàn)室用粒度粒形分析儀請(qǐng)參考QICPIC.

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