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FLUKE-568 紅外側(cè)儀

會(huì)員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:

價(jià)格:電議

所在地:湖北 武漢市

型號:FLUKE-568

更新時(shí)間:2011-05-27

瀏覽次數(shù):1364

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產(chǎn)品說明


產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)
紅外測溫范圍
23,58333333 -40 °C 至 650 °C(-40 °F 至 1202 °F)
23,66666667 -40 °C 至 800 °C(-40 °F 至 1472 °F)
紅外測溫準(zhǔn)確度
  < 0 °C (32 °F):± (1.0 °C (± 2.0 °F) + 0.1°/1 °C or °F);
> 0 °C (32 °F):± 1 % 或 ± 1.0 °C (± 2.0 °F),以較大值為準(zhǔn)
顯示分辨率
  0.1 °C / 0.1 °F
紅外光譜響應(yīng)
  8 µm 至 14 µm
紅外響應(yīng)時(shí)間
  < 500 msec
K 型熱電偶輸入溫度范圍
  -270 °C 至 1372 °C(-454 °F 至 2501 °F)
K 型熱電偶輸入準(zhǔn)確度
-270°C 至 -40°C: ±(1 °C + 0.2 °/1 °C)(-454 °F 至 -40 °F:± (2 °F + 0.2 °/1 °F))
-40°C 至 -1372°C: ± 1 % 或 1 °C(-40 °F 至 2501 °F:± 1 % 或 2 °F),以較大值為準(zhǔn)
D:S(距離與測量光點(diǎn)直徑的比率)
566: 30:1
568: 50:1
激光瞄準(zhǔn)
  單點(diǎn)激光 < 1 mw 輸出,2 類 (II) 操作,630 nm 至 670 nm
zui小光點(diǎn)直徑
  19 毫米(0.75 英寸)
發(fā)射率調(diào)節(jié)
  通過內(nèi)置普通材料表或數(shù)字調(diào)節(jié),范圍為 0.10 至 1.00,調(diào)幅 0.01
帶日期/時(shí)間標(biāo)記的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
566: 20 點(diǎn)
568: 99 點(diǎn)
PC 接口和電纜
566:
568: USB 2.0 和 FlukeView® Forms 軟件
高/低警報(bào)
  聲音和雙色視覺警報(bào)
zui小/zui大/平均值/DIF
 
顯示
  98 x 96 像素點(diǎn)陣,帶有功能菜單
背光
  兩個(gè)級別,正常背光和適合較暗環(huán)境的超亮背光
觸發(fā)器鎖定
 
可切換攝氏度和華氏度
 
電源
23,58333333 2 節(jié) AA/LR6 電池
23,66666667 2 節(jié) AA/LR6 電池,與電腦配合使用時(shí)通過 USB 接口供電
電池壽命
如果連續(xù)使用: 激光和背光打開,12 小時(shí);激光和背光關(guān)閉,100 小時(shí)
操作溫度
  0°C 至 50°C(32°F 至 122°F)
存放溫度
  -20 °C 至 60 °C(-4 °F 至 140 °F)
K 型珠式熱電偶溫度范圍
  -40 °C 至 260 °C(-40 °F 至 500 °F)
K 型珠式熱電偶準(zhǔn)確度
  0 °C 至 260 °(32 °F 至 500 °F)溫度范圍,± 1.1 °C (2.0 °F);-40 °C 至 0 °C(-40 °F 至 32 °F)溫度范圍:通常小于 1.1 °C (2.0 °F)
型號名稱 描述
 Fluke 566  紅外和接觸式測溫儀
Fluke 566 包括:
  • K 型熱電偶珠式探針
  • 耐用硬盒
  • 2 節(jié) AA 電池
  • 6 種語言版本的入門指南
  • 6 種語言版本的用戶手冊光盤(英語、西班牙語、法語、德語、葡萄牙語和簡體中文)
  • 兩年保修
 Fluke 568  紅外和接觸式測溫儀
Fluke 568 包括:
  • K 型熱電偶珠式探針
  • 耐用硬盒
  • 2 節(jié) AA 電池
  • 6 種語言版本的入門指南
  • USB 電纜
  • FlukeView® Forms 軟件光盤
  • 6 種語言版本的用戶手冊光盤(英語、西班牙語、法語、德語、葡萄牙語和簡體中文)
  • 兩年保修
 
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80PK-EXT 延長線套件( K 型)

 

標(biāo)題 類型 下載
566/568 用戶手冊 簡體中文
 
     566/568 補(bǔ)充內(nèi)容 用戶手冊 美國英語
566/568 入門 簡體中文
 
566/568 Statement of Memory Volatility 美國英語
 
 
 
 
 
 
     
 

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