RoHS測(cè)試儀應(yīng)用于海關(guān)、質(zhì)檢局、三方測(cè)試機(jī)構(gòu)等專業(yè)測(cè)試機(jī)構(gòu)QA檢驗(yàn)，電子通信、文體設(shè)備、紡織品、皮革、食品、家用電器等制業(yè)的QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。

ROHS檢測(cè)儀是種檢測(cè)ROHS的檢測(cè)儀，原理是利用X射線檢測(cè)ROHS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中的元素的含量。目前市場(chǎng)上常見(jiàn)的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長(zhǎng)色散型，能量色散型因其術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長(zhǎng)色散型簡(jiǎn)單，現(xiàn)市場(chǎng)上常見(jiàn)。

術(shù)參數(shù)：

元素分析范圍：鈉(Na)－鈾(U)

元素含量分析范圍為1 PPm－99.99%

作穩(wěn)定性：總熒光強(qiáng)度為0.1%

測(cè)量時(shí)間：60-200秒

溫度適應(yīng)范圍：15℃－30℃

電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

可同時(shí)分析36種元素

術(shù)原理：

放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，會(huì)放射該原子所固有能量的X射線－－特征X射線。

不同元素特征X射線能量各不相同，依此行定性分析；再根據(jù)特征X射線強(qiáng)度線強(qiáng)度大小，可行定量分析。

可用函數(shù)關(guān)系式表示為：

C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)

式中：Kn(n=1,2,3…)表示n號(hào)元素的待定系數(shù)；In(n=1,2,3…)表示n號(hào)元素釋放的特征X射線強(qiáng)度，由此可知只要通過(guò)標(biāo)定確定系數(shù)Kn之后便可行物質(zhì)中元素的定量分析了。

分析原理：

ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：

nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）

式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。

能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：

Q=KE

式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。

待測(cè)元素的特征譜線需要采用定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還須采用定的樣品制備術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。