表面污染監(jiān)測實(shí)際上是監(jiān)測放射性污染物發(fā)出的α粒子或β粒子。對于壓水堆核電廠而言，表面α污染較為少見，因而一般核電廠控制區(qū)內(nèi)的表面污染監(jiān)測主要是對β表面污染的監(jiān)測。

表面污染的監(jiān)視方法一般有兩種，一種為直接測量，一種為間接測量。

所謂直接測量，就是用污染監(jiān)測儀的探測器直接對待測的表面進(jìn)行測量。直接測量的污染是被測表面上固定污染和松散污染的總和。

所謂表面污染的間接測量，就是將被測表面的放射性污染，通過擦拭取樣轉(zhuǎn)移到擦拭紙上，然后用污染監(jiān)測儀測量擦拭樣品。因此，間接測量的污染是被測表而上的松散污染．

間接測量法主要用于不便于直接測量的表面（如管道、溝槽、門把手等）或被測表面附近γ輻射本底較強(qiáng)而元法進(jìn)行直接測量的場合。

核電廠常用的測量β表面污染的儀器是MIPIO或6150AD5/H+AD17